Oglekļa{0}}kompozītu pretestību ietekmē daudzi faktori, tostarp oglekļa šķiedras tilpuma daļa, oglekļa šķiedras garums un karbonizācijas temperatūra. Eksperimentālie rezultāti liecina, ka oglekļa šķiedras tilpuma daļas palielināšana samazinās oglekļa -oglekļa kompozītmateriālu pretestību, bet oglekļa šķiedras garuma palielināšanās palielinās pretestību; turklāt karbonizācijas temperatūras paaugstināšanās izraisīs arī pretestības pieaugumu.
Mērīšanas metode
Galvenās metodes oglekļa -oglekļa kompozītmateriālu pretestības mērīšanai ir dubultās-zondes metode un četru-zondes metode. Dubultās-zondes metode mēra strāvas un sprieguma vērtības, novietojot divas zondes abos mērāmā parauga galos, taču šai metodei ir liela kļūda, mērot zemas-pretestības oglekļa šķiedras. Četru-zondes metode mērīšanai izmanto četras zondes, no kurām divas tiek izmantotas strāvas novadīšanai, bet pārējās divas tiek izmantotas sprieguma mērīšanai. Tā kā sprieguma elektrods un strāvas elektrods ir atdalīti, kontakta pretestības un svina pretestības ietekmi var ignorēt, tādējādi uzlabojot mērījumu precizitāti.